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文部科学省 先端研究施設共用イノベーション創出事業 ナノテクノロジー・ネットワーク
『中部地区ナノテク総合支援:ナノ材料創製加工と先端機器分析』
「X線光電子分光支援」
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2007年4月1日 記載責任者
横山利彦
このプログラムでは,
顕微光電子分光(マイクロESCA)装置の利用
を支援しています。
本装置は
第1期ナノ支援
でも提供してきましたが,ツインアノードX線源を備え,小さな試料のX線光電子分光測定(分光モードで最小20μmまで絞れます)や,不均一な試料での元素および化学状態別のマッピング(イメージモードでの空間分解能は仕様値で5μm)を行うのに適しています。
もちろん通常の大きな均一試料の分光モード測定も可能です。利用を希望される場合は、
まず、
横山(
yokoyama@ims.ac.jp
)
までご連絡下さい。
ESCALAB 220i-XL概要
所外
利用手順・利用規定
所内
利用手順・利用規定
利用マニュアル(ハードウエア)
利用マニュアル(ソフトウエア)
利用予定表
利用後の提出書類など